〔記者楊伶雯╱台北報導〕聯電與新加坡半導體封測廠商星科金朋(STATS ChipPAC)29日共同宣佈,展示全球第一件在開放式供應鏈環境下合作開發的內嵌矽穿孔(TSV) 3D IC技術;所展示的3D晶片堆疊,由Wide I/O記憶體測試晶片和內嵌TSV的28奈米微處理器測試晶片所構成,並且達成封裝層級可靠度評估重要的里程碑。
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